Для цитирования:

Шанин Ю.И., Шарапов И.С. Надежность двухосевых сканирующих головок, применяемых в аддитивном производстве. Известия высших учебных заведений. Приборостроение. 2023;66(5):409-422. https://doi.org/10.17586/0021-3454-2023-66-5-409-422

For citation:

Shanin Yu.I., Sharapov I.S. Reliability of dual-axis scanning heads used in additive manufacturing. Journal of Instrument Engineering. 2023;66(5):409-422. (In Russ.) https://doi.org/10.17586/0021-3454-2023-66-5-409-422